印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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為什么偏偏這個PTH孔不上錫?90%的人查錯了方向!

發布時間: 2026-05-07 00:00
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波峰焊后,PTH里的焊錫像"水珠打在荷葉上"——焊錫無法沿孔壁爬升,這就是行業常說的PTH焊點上錫不良。

而PTH(鍍通孔)元件的上錫質量,直接決定了產品的電氣連接可靠性。工程師最不愿面對的,就是這種偶發、隱蔽且足以致命的缺陷。

遇到這類問題,多數人的第一反應是:OSP膜失效了?還是波峰焊參數沒調好?

最近,我們接手了一起典型PTH焊點上錫不良案例。

委托方的困境極具代表性:PCB表面處理為OSP(有機保焊膜),波峰焊后個別PTH孔出現上錫不良,但同板其他孔完好無損,板廠與組裝廠各執一詞,根因遲遲無法鎖定。

今天,我們就通過這個案例,從現象到機理,一步步拆解,看問題到底出在哪一環。


1.外觀檢查與無損透視

我們首先對NG樣品進行了體視顯微鏡檢查。

  • 個別通孔確實沒有被焊錫有效填充,焊錫只停留在表面,甚至完全沒有潤濕擴散的跡象。

上錫不良PTH焊點及其他焊點光學檢查照片

上錫不良PTH焊點及其他焊點光學檢查照片

隨后,我們使用X-Ray和CT進行無損“透視”。

  • 失效模式確認:確實存在焊點填錫不足、焊錫高度不夠,甚至內部有空洞的情況。

  • 排除常見原因:沒有發現明顯的孔壁斷裂(孔破)問題。

  • 一個新發現:無論是上錫好還是不好的焊點,都觀察到了元件引腳偏位,但偏位并不是導致上錫不良的直接原因,因為它同時存在于NG樣品和OK樣品中。

上錫不良PTH焊點X-Ray觀察照片

上錫不良PTH焊點X-Ray觀察照片

上錫不良PTH焊點CT觀察照片

上錫不良PTH焊點CT觀察照片

PS:問題聚焦在“潤濕”本身,而非結構的嚴重破壞。


2.表面分析發現“嫌疑物”

為了看得更清楚,我們將樣品放進了場發射掃描電子顯微鏡(SEM) 下,并對可疑位置做了能譜分析(EDS)。

  • 關鍵現象:在所有失效焊點,甚至部分外觀“正常”的焊點,我們都在通孔的拐角位置(一個非常容易藏污納垢的死角)發現了一層異物殘留。

失效PTH焊點及未失效PTH焊點形貌觀察

失效PTH焊點及未失效PTH焊點形貌觀察

  • 成分分析:這層異物的成分很復雜,包含了C、O、Br、Si、S、Sn、Ba、Cu等元素。

失效PTH焊點及未失效PTH焊點成分分析結果

失效PTH焊點及未失效PTH焊點成分分析結果

  • 初步推斷:O、Br、Sn主要來自焊接過程中的助焊劑殘留;C、O、Si、S、Ba這部分元素組合,是線路板綠油(阻焊油墨) 的特征成分!

  • 重要發現:在一個失效焊點的孔環表面,我們還檢測到了異常的Cl(氯)元素,這在正常的OSP膜上是不應該出現的。

PS:通孔內存在綠油殘留,并且PCB表面有含氯污染物。


3.剖面分析坐實證據

表面分析只能看外觀,為了看到內部界面,我們進行了最關鍵的切片(Cross-section)分析。

  • 確認潤濕不良:在失效焊點的孔環表面,確實觀察到局部區域完全沒有焊錫附著,證明此處的潤濕性極差。

  • 確認綠油殘留:在通孔拐角、焊錫與孔壁銅層之間,清晰地嵌入了片狀或塊狀的異物,EDS分析確認,這正是前面推測的綠油殘留。它物理性地阻擋了焊錫與銅面的接觸,并污染了待焊表面。

失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察

失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察

  • 確認正常位置IMC良好:在焊接正常的位置,我們觀察到了連續、厚度約為1.28-3.21μm的金屬間化合物(IMC),這說明整體的焊接溫度、時間等工藝參數是基本正常的。

失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察

失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察

4.光板分析揭開“鍋”到底是誰的

綠油是哪里來的?異常Cl元素又是哪里來的?

為了回答這個問題,我們對委托方提供的同批次未經焊接的PCB光板進行了分析。

  • 綠油問題:在PCB光板的個別PTH孔拐角,我們同樣發現了顆粒狀的異物。但成分分析顯示,這種顆粒物并不含有綠油的特征元素(Si、Ba等)。這說明,焊接后發現的“綠油殘留”并非來自PCB光板,很可能是在焊接過程中從其他地方(比如插件、夾具或其它污染源)引入的,屬于偶發性問題。

PCB光板PTH通孔(Bottom面)光學檢查照片

PCB光板PTH通孔(Bottom面)光學檢查照片

  • OSP膜污染問題:我們用SEM觀察PCB光板的孔環表面,發現其形貌異常,不是正常的均勻OSP膜。EDS分析顯示,其表面除了C、N、O、Cu外,竟然檢出了高含量的Cl(氯)和I(碘)元素。這兩種鹵素元素是完全不該出現在OSP膜上的外來污染物!它們會嚴重破壞OSP膜的完整性和保護性,大大降低銅表面的可焊性。

PCB光板PTH通孔孔環表面(Bottom面)形貌觀察

PCB光板PTH通孔孔環表面(Bottom面)形貌觀察

為了驗證這個判斷,我們直接對PCB光板進行了可焊性測試(Edge Dip Test)。

  • 部分PTH孔的孔環確實出現了局部潤濕不良,潤濕面積小于95%,不滿足IPC J-STD-003C標準要求。

PCB光板PTH通孔(Bottom面)浸錫后光學觀察照片

PCB光板PTH通孔(Bottom面)浸錫后光學觀察照片


根本原因:

  1. 通孔拐角位置異常綠油殘留,影響了整個通孔的上錫性;

  2. PCB光板OSP膜存在異常污染(含有異常Cl、I元素),降低了通孔孔環及孔壁的潤濕能力。

改進建議:

嚴格管控PCB光板綠油涂覆工藝及OSP膜工藝質量,避免通孔拐角綠油殘留及OSP膜污染。

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