







波峰焊后,PTH里的焊錫像"水珠打在荷葉上"——焊錫無法沿孔壁爬升,這就是行業常說的PTH焊點上錫不良。 而PTH(鍍通孔)元件的上錫質量,直接決定了產品的電氣連接可靠性。工程師最不愿面對的,就是這種偶發、隱蔽且足以致命的缺陷。 遇到這類問題,多數人的第一反應是:OSP膜失效了?還是波峰焊參數沒調好? 最近,我們接手了一起典型PTH焊點上錫不良案例。 委托方的困境極具代表性:PCB表面處理為OSP(有機保焊膜),波峰焊后個別PTH孔出現上錫不良,但同板其他孔完好無損,板廠與組裝廠各執一詞,根因遲遲無法鎖定。 今天,我們就通過這個案例,從現象到機理,一步步拆解,看問題到底出在哪一環。 1.外觀檢查與無損透視 我們首先對NG樣品進行了體視顯微鏡檢查。 個別通孔確實沒有被焊錫有效填充,焊錫只停留在表面,甚至完全沒有潤濕擴散的跡象。 上錫不良PTH焊點及其他焊點光學檢查照片 隨后,我們使用X-Ray和CT進行無損“透視”。 失效模式確認:確實存在焊點填錫不足、焊錫高度不夠,甚至內部有空洞的情況。 排除常見原因:沒有發現明顯的孔壁斷裂(孔破)問題。 一個新發現:無論是上錫好還是不好的焊點,都觀察到了元件引腳偏位,但偏位并不是導致上錫不良的直接原因,因為它同時存在于NG樣品和OK樣品中。 上錫不良PTH焊點X-Ray觀察照片 上錫不良PTH焊點CT觀察照片 PS:問題聚焦在“潤濕”本身,而非結構的嚴重破壞。 2.表面分析發現“嫌疑物” 為了看得更清楚,我們將樣品放進了場發射掃描電子顯微鏡(SEM) 下,并對可疑位置做了能譜分析(EDS)。 關鍵現象:在所有失效焊點,甚至部分外觀“正常”的焊點,我們都在通孔的拐角位置(一個非常容易藏污納垢的死角)發現了一層異物殘留。 失效PTH焊點及未失效PTH焊點形貌觀察 成分分析:這層異物的成分很復雜,包含了C、O、Br、Si、S、Sn、Ba、Cu等元素。 失效PTH焊點及未失效PTH焊點成分分析結果 初步推斷:O、Br、Sn主要來自焊接過程中的助焊劑殘留;C、O、Si、S、Ba這部分元素組合,是線路板綠油(阻焊油墨) 的特征成分! 重要發現:在一個失效焊點的孔環表面,我們還檢測到了異常的Cl(氯)元素,這在正常的OSP膜上是不應該出現的。 PS:通孔內存在綠油殘留,并且PCB表面有含氯污染物。 3.剖面分析坐實證據 表面分析只能看外觀,為了看到內部界面,我們進行了最關鍵的切片(Cross-section)分析。 確認潤濕不良:在失效焊點的孔環表面,確實觀察到局部區域完全沒有焊錫附著,證明此處的潤濕性極差。 確認綠油殘留:在通孔拐角、焊錫與孔壁銅層之間,清晰地嵌入了片狀或塊狀的異物,EDS分析確認,這正是前面推測的綠油殘留。它物理性地阻擋了焊錫與銅面的接觸,并污染了待焊表面。 失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察 確認正常位置IMC良好:在焊接正常的位置,我們觀察到了連續、厚度約為1.28-3.21μm的金屬間化合物(IMC),這說明整體的焊接溫度、時間等工藝參數是基本正常的。 失效PTH焊點及正常PTH焊點截面形貌觀察 4.光板分析揭開“鍋”到底是誰的 綠油是哪里來的?異常Cl元素又是哪里來的? 為了回答這個問題,我們對委托方提供的同批次未經焊接的PCB光板進行了分析。 綠油問題:在PCB光板的個別PTH孔拐角,我們同樣發現了顆粒狀的異物。但成分分析顯示,這種顆粒物并不含有綠油的特征元素(Si、Ba等)。這說明,焊接后發現的“綠油殘留”并非來自PCB光板,很可能是在焊接過程中從其他地方(比如插件、夾具或其它污染源)引入的,屬于偶發性問題。 PCB光板PTH通孔(Bottom面)光學檢查照片 OSP膜污染問題:我們用SEM觀察PCB光板的孔環表面,發現其形貌異常,不是正常的均勻OSP膜。EDS分析顯示,其表面除了C、N、O、Cu外,竟然檢出了高含量的Cl(氯)和I(碘)元素。這兩種鹵素元素是完全不該出現在OSP膜上的外來污染物!它們會嚴重破壞OSP膜的完整性和保護性,大大降低銅表面的可焊性。 PCB光板PTH通孔孔環表面(Bottom面)形貌觀察 為了驗證這個判斷,我們直接對PCB光板進行了可焊性測試(Edge Dip Test)。 部分PTH孔的孔環確實出現了局部潤濕不良,潤濕面積小于95%,不滿足IPC J-STD-003C標準要求。 PCB光板PTH通孔(Bottom面)浸錫后光學觀察照片 根本原因: 通孔拐角位置異常綠油殘留,影響了整個通孔的上錫性; PCB光板OSP膜存在異常污染(含有異常Cl、I元素),降低了通孔孔環及孔壁的潤濕能力。 改進建議: 嚴格管控PCB光板綠油涂覆工藝及OSP膜工藝質量,避免通孔拐角綠油殘留及OSP膜污染。





