印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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電池保護板燒毀:過壓還是腐蝕?——PCBA失效分析

發布時間: 2026-03-17 00:00
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某公司生產的電池保護板PCBA,在SMT貼片及PCB生產后測試全部通過,組裝電芯后功能驗證也一切正常。然而,產品交付客戶使用1-2個月后,陸續出現P+、P-銅皮燒毀的失效現象。

產線測試(ICT、FCT、AOI、老化)全部正常,為何到了客戶手中卻頻頻燒毀?是過壓擊穿,還是工藝隱患?如何從一片燒毀的PCBA中找到根本原因?

本文將通過系統的失效分析流程,從外觀檢查到微觀成分分析,逐步排查問題根源,并提出切實可行的改進方案。


1.外觀檢查:燒毀位置高度一致

  • NG樣品PCBA底面P+、P-銅皮間均有明顯燒毀痕跡,正面邊緣雖有輕微刮傷,但無元件燒毀、連錫等異常;OK樣品對應位置完好。

NG樣品和OK樣品 PCBA外觀對比檢查形貌

NG樣品和OK樣品 PCBA外觀對比檢查形貌

燒毀形貌呈現典型的過壓或漏電打火特征,且NG樣品燒毀點完全相同,說明問題集中在P+/P-區域,而非隨機故障。


2.X-ray檢查:內層完好,燒毀僅限表層

  • X-ray透視顯示,燒毀僅發生在PCBA表層P+、P-銅皮之間,內層線路、元件內部均無異常。

NG樣品X-ray對比檢查形貌
NG樣品X-ray對比檢查形貌

NG樣品X-ray對比檢查形貌

排除了內層短路或元件內部擊穿的可能,進一步確認失效為表層局部問題。


3.在板阻值檢測:P+/P-兩端阻值異常偏低

  • 用萬用表測量發現:NG樣品(NG1、NG2)的C3(P+、P-)兩端阻值分別僅為7.7Ω和33.6Ω,而OK樣品為無窮大;同時,T2(U3_pin2-pin3)兩端阻值也明顯偏低。

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品在板元件阻值檢測

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品在板元件阻值檢測

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品在板元件阻值檢測

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品在板元件阻值檢測

初步懷疑U3及T2存在擊穿,或P+/P-間漏電。但R3、U2等元件阻值正常,排除了過流燒毀的可能。


4.電路參數檢測:后級P+/P-無輸出

  • 上電3.7VDC后,NG樣品(NG1、NG2)的P+、P-輸出電壓幾乎為0V,而OK樣品正常輸出3.6V;前級B+、B-電路波形正常。

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品電路參數檢測
NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品電路參數檢測

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品電路參數檢測

問題鎖定在后級P+、P-電路部分,前級電路功能完好,故障點進一步縮小。


5.功能驗證:P+/P-端存在短路漏電

  • 在B+、B-接入3.7V,P+、P-接入5V模擬充電狀態下,NG樣品的P+、P-端電壓被拉低,電流迅速達到限流值101mA(實際無限制時會更大),而OK樣品充電正常。

NG樣品、OK樣品B+、B-端接3.7VDC,P+、P-端接入5VDC后功能驗證檢測
NG樣品、OK樣品B+、B-端接3.7VDC,P+、P-端接入5VDC后功能驗證檢測

NG樣品、OK樣品B+、B-端接3.7VDC,P+、P-端接入5VDC后功能驗證檢測

說明失效樣品的P+、P-端存在明顯短路或漏電,導致無法正常充電,且大電流會引起局部發熱。


6.半導體特性曲線檢測:元件完好,排除過壓擊穿

  • 將T2、U3等元件解焊后進行I-V曲線測試,發現所有元件特性正常,無擊穿、漏電現象。

NG樣品、OK樣品T2、U3元件半導體特性曲線檢測

NG樣品、OK樣品T2、U3元件半導體特性曲線檢測

(備注:藍色線為OK樣品半導體特性曲線,紅色線為NG樣品半導體特性曲線)

過壓導致元件損壞的可能性被排除,漏電來源直指PCBA本身——即P+、P-銅皮間。


7.模擬漏電檢測:P+/P-間絕緣電阻僅個位數歐姆

將PCBA上所有元件拆除后,單獨對P+、P-兩端進行漏電測試:

  • 萬用表:NG樣品(NG1、NG2)分別為8.2Ω和29.1Ω,OK樣品為無窮大;

  • 漏電流測試儀:NG樣品(NG1、NG2)無法充電,OK樣品絕緣電阻高達7.977GΩ;

  • 供電測試:3.8V供電下,NG樣品(NG1、NG2)漏電流超過50mA(無限流時會更大),OK樣品為0mA。

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品模擬漏電檢測結果

NG樣品(NG1、NG2)、OK樣品模擬漏電檢測結果

解釋:P+、P-間確實存在嚴重漏電,且漏電點就在燒毀位置。


8.Thermal EMMI紅外熱點定位:熱點就在燒毀處

  • 3.8V/4mA注入P+、P-兩端,紅外熱像儀清晰捕捉到NG樣品燒毀位置出現紅色熱點,OK樣品無熱點。

NG樣品、OK樣品 Thermal EMMI紅外熱點定位分析
NG樣品、OK樣品 Thermal EMMI紅外熱點定位分析

NG樣品、OK樣品 Thermal EMMI紅外熱點定位分析

漏電位置與燒毀位置完全重合,進一步確認漏電是燒毀的直接原因。


9.微觀分析+成分分析:氯元素現身,腐蝕是元兇

  • SEM觀察燒毀點局部焦黑,未向四周擴散,符合漏電打火特征。

NG1樣品燒毀部位微觀分析形貌

NG1樣品燒毀部位微觀分析形貌

  • EDS成分分析在燒毀點及周邊檢出Cl(氯)元素,而正常區域無氯。

NG樣品成分分析結果

NG樣品成分分析結果

氯在潮濕環境下可生成鹽酸(HCl),腐蝕銅皮形成導電通道,導致P+、P-間絕緣下降,最終在電池接入后發生漏電打火燒毀。

切片分析:內層無異常,排除異物刺穿

  • 切片觀察顯示燒毀僅發生在表層P+、P-銅皮之間,內層銅厚均勻、無空洞、無異物刺穿。

NG樣品燒毀位置切片分析形貌
NG樣品燒毀位置切片分析形貌
NG樣品燒毀位置切片分析形貌

NG樣品燒毀位置切片分析形貌

確認燒毀原因為表層腐蝕漏電,而非內層制造缺陷。


根本原因:

NG樣品PCBA上P+、P-銅皮間燒毀的根本原因是氯元素污染引起的電化學腐蝕,導致銅皮間絕緣下降,在電池接入后形成漏電通道,最終發生打火燒毀。

改進建議:

  1. 加強PCB清洗工藝:確保助焊劑殘留、手指接觸污染等引入的氯離子被徹底清除。

  2. 控制生產環境:避免含氯物質(如某些清洗劑、汗液、包裝材料)接觸PCB。

  3. 增加三防漆涂覆:在P+、P-等高壓差區域加強絕緣保護。

  4. 優化PCB設計:適當增加P+、P-銅皮間距,降低漏電風險。

  5. 引入可靠性篩選:如高溫高濕老化測試,提前暴露潛在腐蝕漏電隱患。

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